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LIBS系統(tǒng):光譜儀與IsCMOS相機的應用案例
更新時間:2024-12-30瀏覽:219次

激光誘導擊穿光譜(Laser-induced breakdown spectroscopy,簡稱LIBS)作為一種近年來隨著激光及光譜學技術的發(fā)展而快速興起的新型光學元素分析技術,具有快速實時、可原位檢測及可遠程測量等優(yōu)勢,被譽為“未來化學分析之星"。

其基本原理為當高能量的激光脈沖聚焦到樣品表面時,會使樣品表面的物質(zhì)瞬間蒸發(fā)、電離,形成高溫、高密度的等離子體。這個等離子體包含了樣品中各種元素的離子和電子,這些離子和電子會在極短的時間內(nèi)(一般在微秒級)發(fā)生復合和躍遷等過程,從而發(fā)射出具有特定波長的光子。這些光子的波長與等離子體中元素的種類有關,不同元素會發(fā)射出不同波長的光,形成特征光譜。LIBS是通過分析其特征發(fā)射光譜來分析樣品物性的一種表征手段。

在 LIBS 技術的發(fā)展過程中,探測器的性能對于整個系統(tǒng)的探測能力起著至關重要的作用。IsCMOS作為一種先進的探測器,其時間分辨和光子增益功能為 LIBS 技術帶來了顯著的性能提升,使其能夠采集混合在連續(xù)背景中的瞬態(tài)微弱信號,更好地滿足各種復雜分析任務的需求。

大連理工大學等離子體學科研究中心依托于大連理工大學物理學院、等離子體物理國家重點學科、三束材料改性教育部重點實驗室,致力于磁約束核聚變壁材料LIBS應用研究和激光燒蝕基本物理研究。是國內(nèi)率*開展先進光譜等離子體診斷研究的團隊之一,發(fā)展了多種激光光譜診斷平臺,如激光誘導擊穿光譜技術(LIBS)、激光誘導熒光光譜技術(LIF)、激光湯姆遜散射技術(TS)、光腔衰蕩光譜技術(CRDS)、激光散斑干涉技術(LSI)、太赫茲光譜診斷技術(THz)、飛行時間質(zhì)譜(TOF),其中多項技術處于國內(nèi)*先地位。

李聰,大連理工大學物理學院,副教授、博士生導師、大連市先進聚變能源重點實驗室副主任、大連市高層次人才“高*人才"、大連市“青年科技之星"、中國博士后基金特別資助獲得者。參與重大科研項目10余項,獲遼寧省自然科學二等獎(排二)。在國際知*期刊發(fā)表SCI論文70余篇(第一/通訊20余篇)、授權中國發(fā)明專*10余項、美國發(fā)明專*1項。

近日,在大連理工大學等離子體學科研究中心李聰教授的邀請下,將卓立漢光自制的IsCMOS像增強型相機搭配全新推出的Omni-λ300s“影像譜王"光柵光譜儀應用到李聰教授的LIBS系統(tǒng)中,結(jié)果如下:

Cu原子在delay:200ns,width:5us下的發(fā)射譜線:

img1 

Mo原子在delay:250ns,width:5us下的發(fā)射譜線:

img2 

上述數(shù)據(jù)利用卓立漢光全新推出的IsCMOS采集,采用高效超快像增強器,配合>95%量子效率制冷型IsCMOS相機,可實現(xiàn)低噪聲、超快門控拍照。上述特性使其在 LIBS 應用中能夠?qū)崿F(xiàn)時間分辨光譜采集。

在 LIBS 過程中,等離子體的形成和演化是一個動態(tài)過程,不同時刻等離子體的溫度、電子密度等物理參數(shù)以及元素的發(fā)射光譜特征都有所不同。通過精確控制 IsCMOS的門控時間,可以選擇在等離子體發(fā)射光譜信號*強、干擾最小的特定時刻進行采集。例如,在等離子體形成后的極短時間內(nèi),可能存在較強的連續(xù)背景輻射,而經(jīng)過一定時間延遲后,元素的特征譜線發(fā)射會更加明顯且背景干擾降低。IsCMOS能夠根據(jù)這一特性,靈活設置門控延遲時間和門寬,獲取不同時間階段的光譜信息,深入研究等離子體的演化過程,進而更精準地分析樣品的元素組成和含量,為 LIBS 技術在動態(tài)過程監(jiān)測和瞬態(tài)現(xiàn)象研究等方面提供了有力手段。

IsCMOS具有超快光學門寬,<3ns陰極光學門寬,內(nèi)置精度<10ps門寬控制器。下圖為門寬遞進10ps掃描納秒光源圖譜。

img3 

下圖為延時遞進200ps掃描納秒光源圖譜。

img4 

制冷型IsCMOS,芯片制冷溫度低于環(huán)境35℃,有效降低芯片暗噪聲。下圖為IsCMOS*低背景基線。

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IsCMOS具有2048*2048像素陣列,這使得它能夠在 LIBS 光譜采集過程中實現(xiàn)高光譜分辨率。在 LIBS 分析中,不同元素的特征譜線往往非常接近,高光譜分辨率能夠清晰地分辨這些譜線,從而準確地識別出樣品中所含的各種元素及其含量。例如,對于一些過渡金屬元素,其相鄰的發(fā)射譜線可能僅有零點幾納米的波長差,IsCMOS可以精確地捕捉到這些細微的差異,為元素的精確分析提供了有力保障。

下圖為IsCMOS配合卓立全新推出的Omni-λ300S光譜儀,在保證紫外高通光量的前提下,在@2400g/nm光柵時測試分辨率可達0.05nm。此外軟件上優(yōu)化了校正算法,多峰譜線波長校準,校準后汞燈各峰值精準度<±0.2nm @1200g/nm。

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